数之联创立于2012年，始终坚持“数据价值发现专家”定位，致力于成为集数据、算法、应用为一体的数据行业引领者。 数之联积累了20多年的数据治理、数据分析可视化、数据挖掘经验，构建了一套自主可控的技术体系，具备强大的科技创新能力，拥有多项自主知识产权的核心技术，具备咨询规划、解决方案、产品服务三大能力，深耕智能制造与智慧城市两大领域，助力客户实现运营优化、服务创新、业态模式重构，快速完成数智化转型发展，赢得市场先机。

数联智造——AOI自动光学检测设备 数联智造——ADC自动缺陷分类系统 数联智造——YMES良率分析与提升系统 数联智造——VM虚拟量测系统

成功案例——AOI自动光学检测设备，某LCM/OLED模组厂。 成功案例 —— 自动图像缺陷分析系统，某AMOLED生产企业（另有LTPS面板生产企业、A-SI面板生产企业类型生产企业应用）。 成功案例 ——YMES良率分析与提升系统，国内某液晶面板厂商。 成功案例 ——VM虚拟量测系统，某FAB厂商。