在生产制造过程中，传统人工缺陷检测的方式已经无法满足检测需求，智能化的检测技术逐渐发挥着越来越重要的作用。以在电子行业应用率较高的AOI（自动光学检测）技术为例，AOI是先将疑似缺陷产品检出，然后由人工判别缺陷种类和缺陷位置，虽然已达到自动化水平，但仍然有检测过程耗时耗力、成本高的不足。 思谋科技推出的自动缺陷检测及分类（ADC，Automatic Defect Classification）解决方案，可以将在生产过程中产生的不良问题，例如不良种类、不良大小、位置等，进行综合计算和缺陷的自动分类；对一些干扰因素，如环境干扰、设备故障等进行及时的修正和改善，避免不良的继续产生。同时，也为后续的返工（Rework）、返修（Repair）等工艺操作提供指导，提高效率，降低整个系统的不良率，及时减少返工和返修的工作量，显著提升缺陷辨识率、缺陷分类正确率和检测效率。 产品优势 01缺陷判定与分类 缺陷识别速度从人工分类的2~3s/张提升到250ms/张，产品良率提升5%-6%，漏检率<0.5%，可节省80%的缺陷分类动人力成本通过缺陷类型训练与迭代，缺陷识别率最高可达99%以上。 02提升速率 通过模型训练系统具备缺陷判别知识，ADC可进行缺陷自分类与判别，能够全覆盖实时检测各种产品缺陷。此外，系统同时通过传感设备修正错误结果，实时将修正结果反馈到ADC，让模型得到持续学习，提升缺陷判别效果。 服务场景 液晶面板缺陷检测分析；太阳能电池表面缺陷分析；PCB假点检测与分析;

某龙头半导体公司液晶面板缺陷检测项目，实现99%缺陷识别率和自动分类，人力成本节省约80%。;